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nanofilm_ep4 ellipsometer Accurion

nanofilm_ep4 - elipsómetro de imagen

La nueva generación de esta herramienta de metrología para películas delgadas microscópicas, superficies y materiales usa una combinación de elipsometría de anulación y microscopía que permite la caracterización de superficies con una resolución lateral de hasta 1 micra. Esto permite resolver áreas de muestra 1000 veces más pequeñas que las que se consiguen con la mayoría de elipsómetros convencionales, incluyendo los que usan la opción del micro spot.
El nanofilm_ep4 usa una variedad de características únicas que permiten la visualización de la superficie analizada en tiempo real. Usted verá la estructura de su muestra en escala microscópica y medirá parámetros como grosor, índice de refracción y absorción. Se pueden recoger mapas de perfil en 3D de las áreas seleccionadas. También es posible la combinación del instrumento con otras técnicas como AFM, QCM-D, reflectometría, espectroscopía Raman, etc. para conseguir incluso más información de sus muestras.

Sofisticado software de modelización

El software del nanofilm_ep4 es modular. Módulos separados de software simplifican el manejo del instrumento y permiten el análisis de los datos recolectados en paralelo, offline o de forma remota. Los módulos de software son: AccurionServer, EP4Control, AccurionDataStudio y EP4Model. AccurionServer es un organizador de la estructura de almacenamiento de datos y de las fuentes de datos soportadas. EP4Control opera el instrumento e incluye opciones para el tratamiento de imágenes. AccurionDataStudio permite el procesamiento de datos independientemente del instrumento. EP4Model permite la modelización de películas finas complejas así como analizar y ajustar al modelo los datos obtenidos (no se requiere para medidas BAM).

Características principales

  • Visualización directa de la muestra en una imagen con contraste elipsométrico, con una resolución lateral de hasta 1 micra.
  • Elipsometría de imagen en un rango de longitudes de onda desde 250 a 1700 nm.
  • Multitud de accesorios para cubrir gran variedad de aplicaciones (SPR, celdas sólido/líquido, light guide para interfases líquido/líquido, celdas para microfluidos, control de temperatura, electroquímica y muchas más).
  • Las imágenes con contraste elipsométrico en tiempo real permite detectar defectos o estructuras en la superficie con sólo un vistazo.
  • Análisis en paralelo de múltiples áreas dentro del campo de visión seleccionado.
  • La iluminación con knife edge evita la reflexión de fondo y permite realizar medidas en sustratos transparentes finos.

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